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SURTRONIC DUO、泰勒霍普森、粗糙度儀

SURTRONIC DUO、泰勒霍普森、粗糙度儀

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SURTRONIC DUO、泰勒霍普森、粗糙度儀,Taylor Hobson Surtronic DUO(現有升級款 DUO II),是英國泰勒霍普森(隸屬于阿美特克集團)推出的便攜式分體式表面粗糙度儀,主打工業現場快速、高精度表面粗糙度檢測。

SURTRONIC DUO、泰勒霍普森、粗糙度儀的詳細資料:

SURTRONIC DUO、泰勒霍普森、粗糙度儀


一、產品核心優勢

分體式藍牙設計

主機與測量驅動單元可分離,通過藍牙無線連接,可輕松完成深孔、內壁、溝槽等復雜難測位置的檢測。

操作便捷高效

支持一鍵啟動測量,數秒內即可完成檢測并顯示完整參數及輪廓圖形,操作簡單易上手。

高精度測量性能

配備耐磨金剛石測針,針尖半徑 5μm;測量測力 100–200mg,可有效保護精密工件表面;測量分辨率達 0.01μm(10nm)。

工業級耐用可靠

整機達到 IP54 防塵防水等級,可適應油污、冷卻液等惡劣工況;搭載大容量鋰電池,單次充電可完成超 10000 次測量;配備 2.4 英寸彩色高亮屏,強光環境下也可清晰讀數。

二、關鍵技術參數

測量標準:符合 ISO 4287 標準,支持 Ra、Rz、Rq、Rt、Rp、Rv、Rsk、Rku 等 14 項以上參數

測量量程:Ra 0.01~40μm,Rz/Rt/Rp/Rv 可達 199μm

測量精度:讀數的 5%+0.1μm

掃描長度:5mm,掃描速度 2mm/s

濾波方式:標準 2CR 濾波,截止波長 0.8mm

設備尺寸:125×80×38mm,重量約 200g

供電方式:USB 5V 充電,超長續航滿足高頻次檢測需求



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