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菲希爾COULOSCOPE®CMS STEP（可測電位差） COULOSCOPE®CMS STEP 除了對應于COULOSCOPE®CMS的涂層厚度測量之外，COULOSCOPE®CMS STEP還提供了根據ASTM B764 - 94和DIN 50022進行STEP測試測量的功能.COULOSCOPE®CMS STEP非常適合簡單標準測量 符合各種涂層厚度和多個鎳涂層的電位差。

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德國菲希爾FMP30涂鍍層測厚儀 德國菲希爾FMP30涂鍍層測厚儀產品是分體式手持鍍層涂層測厚儀，帶線探頭，便攜式涂層鍍層測厚儀，可以測量磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和鋁銅基材上非導電涂層的厚度。根據不同測量要求場合，可以更換使用不同規格功能的探頭進行測量。

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菲希爾 XULM240 是一款緊湊、高精度、多功能的 X 射線熒光 (XRF) 鍍層測厚與材料分析儀器，專為微小零件和精細結構的無損檢測設計，廣泛應用于電子、電鍍、汽車等行業的質量控制與生產監控。

FISCHER XUL220 X射線測厚儀，菲希爾代理，FISCHER代理，FISCHER測厚儀。 FISCHERSCOPE X-RAY XUL220 是德國 Helmut Fischer 公司生產的一款臺式 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，專為質量控制設計，適用于細小工件的無損鍍層厚度測量與材料成分分析，是電鍍、電子、珠寶等行業質量管控、來料檢驗及生產過程控制的理想工具。

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FeritScope FMP30鐵素體含量測試儀影響因素 試樣形狀的影響可以通過將測得的鐵素體含量乘以各自的阻礙因子來加以糾正。 通常，只有當試樣的凸曲率的曲率直徑小于50mm，或者試樣的凹曲率的曲率直徑小于80mm，或者試樣的厚度為2mm或包層厚度時，這些影響的校正是必要的 小于2mm，或距離該測量點的距離小于2mm。 對于非常低的鐵酸鹽含量，特別是應該根據測量應用確定厚度的影響。

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菲希爾X射線測厚儀XDL230 FISCHER代理，FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 是德國菲希爾 (Helmut Fischer) 公司推出的一款能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測厚及材料分析系統，專為工業質量控制、來料檢驗和生產監控設計，采用從上往下的測量方向，便于分析形狀不規則的樣品。

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菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL230，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是德國菲希爾（Fischer）出品的高性能、能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測厚與材料分析儀，主打手動 XY 平臺 + 電動 Z 軸，專為工業質量控制中的高精度、無損檢測設計。

605-360 DUALSCOPE®MP0涂層測厚儀貨源充足 手持涂層厚度測量儀帶有兩個大型，易于閱讀的背光顯示屏。 集成探頭采用磁感應法測量非鐵磁性涂層，如油漆和搪瓷，應用于鋼鐵或鐵等有色金屬基體，以及使用渦流的鋁，不銹鋼，銅或黃銅等有色金屬基體上的非導電涂層。 當前方法。 測量范圍0 - 80 mils（0 - 2500μm）。 符合ASTM D7091，B499，DIN EN ISO 21

德國Fischer小型手持測厚儀 德國FISCHER MP0涂層測厚儀是一款為快速且簡便測量而設計的涂層測厚儀。德國FISCHER mpo涂層測厚儀這一款經濟型的涂層測厚儀。

Deltascope FMP10測厚儀，儀器采用現階段Z的磁感應測量原理，通過測量探頭觸點與底材直接厚度讀出準確的鍍層厚度，所以非常適用于底材為鋼鐵等鐵磁性基材，涂鍍層為非鐵磁性材料的涂鍍層厚度測量

優質供應測厚儀MPO德國制造 新款DUALSCOPE MP0采用廣受認可的Fischer探頭技術，是Z為小巧并能*滿足您測量需要的儀器。

Fischer庫倫法測厚儀Couloscope CMS2原產銷售 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 （庫侖測量系統）使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。

菲希爾氧化膜測厚儀IsoScope FMP10代理 ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。

DUALSCOPE FMP20涂鍍層測厚儀享譽的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產品問世了，可以用來無損、高精度測量涂鍍層厚度。

供應德國菲希爾DeltaScope FMP10測厚儀 德國菲希爾公司生產的價格便宜的DELTASCOPE FMP10涂層測厚儀適合于使用在不需要全部測量數據存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。