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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500雙功能一體化測量

單次測量同時獲取涂層厚度與材料成分?jǐn)?shù)據(jù)，無需重復(fù)操作

支持多層涂層(如 ZnNi/Cu/Ni/Cr) 與合金涂層(如鋅鎳合金) 的精確分析

采用菲希爾基本參數(shù)法 (FP 法)，可在無需校準(zhǔn)標(biāo)樣的情況下分析固、液態(tài)樣品

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500高精度測量系統(tǒng)

高分辨率硅漂移檢測器 (SDD)，提供分析精度與探測靈敏度，尤其適合超薄鍍層測量

3 點(diǎn)支撐設(shè)計(jì)，確保每次測量時位置準(zhǔn)確、儀器穩(wěn)定，提升重復(fù)性精度

測量點(diǎn)直徑3 毫米，適合小面積樣品檢測